遠場測試技術雖然早成熟，但是由于其對大測試場地和電磁環境的特殊要求，測試非常不方便，人們一方面用緊縮場產生平面波來模擬無線長度的場地，另一方面則是用近場測試代替遠場測試。

近場測量的原理是在一個面上采集待測天線近場數據，然后通過近遠場變換算法，得到待測天線遠場輻射特性。根據取樣面的形式,可分為平面掃描、極平面掃描、柱面掃描和球面掃描技術，平面近場測量使用為普遍。近場測量的原始數據需要包含幅度相位信息，儀器設備主要是矢量網絡分析儀，或測量接收機、信號源等組成。

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視頻作者：天津國電儀訊科技有限公司

內部信號源也可用于測試頻率轉換器件如混頻器或變頻器，測試時除輸入激勵之外還需要LO信號。第二個信號源對掃描LO測試十分有用，在測試時LO信號連同射頻輸入信號一起被掃描，但保證RF信號和LO信號的頻率差是固定的。這個方法常用于測量寬帶變頻器的前端元件。與使用外部信號發生器相比，使用從VNA內部信號源引出的信號作為LO信號在測試速度上有幾位明顯的改善（使用PNA-X的測試速度比傳統方法的測試速度可5倍）。

基于VNA的測試系統為測量無線通信和航空/系統中所使用的射頻和微波元件提供了動力。與傳統VNA相比，Agilent PNA-X微波網絡分析儀的先進體系結構具有更大的靈活性，使工程師們可以通過一次連接便能測量各種各樣的元件。PNA-X內主要的增加項是第二個信號源和內部寬帶信號合路器，從而簡化了放大器、混頻器和變頻器的測量。除S參數、壓縮和諧波的傳統單信號源測量之外，兩個信號源還可用于IMD、相位隨驅動的變化、熱態S參數和真實激勵模式的測試。PNA-X端口上信號源的高功率輸出、低諧波和寬功率掃描范圍的屬性完全適應當前器件的測試要求。