將待測天線作為發射端，而探頭作為接收端（注：可以根據具體情況進行收發轉換）。在發射端，由VNA1000A產生信號（如需要可增加功率放大器，將測試頻段的輸出功率放大到所需的電平）通過定向耦合器耦合部分功率作為參考信號，輸入至網絡分析儀，在高頻段（如：X波段以上）為了減少路徑損耗和路徑相位的變化，參考信號通過混頻變化為較低的頻率（中頻）輸入至網絡分析儀。網絡分析儀的接收通道可以自由設定接收機的頻率至中頻。

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視頻作者：天津國電儀訊科技有限公司

網絡分析儀內部功分器和定向耦合器分別完成對被測件輸入信號和反射信號的提取。其中當要測試被測件某個端口反射特性時，必須將定向耦合器直接連接在該測試端口上。

這兩部分統稱為信號分離裝置，這部分硬件也通常被測試為“測試座”，在一些特殊測試場合(大功率測試等)可不使用網絡分析儀表一體化的內置測試座，而使用外置測試座設備。

電橋用于反射性能測試，電橋可覆蓋很寬頻率范圍，電橋的主要缺點是對傳輸信號有較大損耗。因此對于給定的信號源功率。結果導致輸入到被測件的功率損失。

定向耦合器負責分離反射測試中的激勵信號和反射信號，這個功能也可由電橋完成，與定向耦合器相比，電橋可覆蓋更寬的頻率范圍，單其對測試的傳輸信號有較大損耗。

頻率200MHz至20GHz，采用玻璃金屬密封結構，能夠防止化學品的腐蝕或摩擦。探頭能夠承受–40至 +200℃ 的溫度范圍，可測量材料特性隨頻率和溫度的變化。大邊緣使探頭能夠對平面固體材料、液體和半固體材料進行測量。

頻率500MHz至50GHz，能夠輕松地裝進發酵罐、化學反應室或其他小孔徑的設備中。同時，細長的設計還使它能夠適用于更小的樣品體積。該探頭適用于測量液體和柔潤的半固體。對于可澆鑄材料，探頭的價格足夠經濟，可伸入到材料中無需取回。這種探頭用作消耗品，因此以三個一套的方式提供，還可以另購備件。